한국표준과학연구원은 2일 중간핵심기술개발과제의 일환으로 추진되어 오던광통신분야의 광원에 대한 분광특성을 분석、 시험하는 광학스펙트럼 분석 기시제품을 대한정밀(주)과 공동으로 개발했다고 밝혔다.
표준연은 개발된 분석기의 주요설계사양은 측정영역이 4백~1천7백50나노미 터、 측정정밀도가 0.1나노미터로 미HP사、 일Ando사의 분석기와 비슷한 수준으로 계측기의 중요한 부문인 2백50나노미터 중복 단색화장치를 자체 개발했다는 데 그 의의가 있다고 밝혔다.
표준연의 관계자는 "이번 연구에서 이용된 분석기 개발기술이 향후 고정밀도분광광도계 형광측정기、 라만측정기 등 관련기기 기술개발에 이용될 수있을 것"으로 전망했다. <대전=김상용기자>