일본 어드밴테스트는 이번 전시회를 통해 초고속 메모리와 시스템LSI에 대응하는 각종 테스트 장비들을 대거 선보였다.
이 가운데 다이렉트 램버스 D램 등 초고속 메모리 테스트에 본격 대응하는 하이엔드 메모리 테스터 「T559」는 이번 전시회에서 최초로 공개된 제품으로 메모리 셀과 주변회로를 모두 검사할 수 있다.
또한 이 장비는 핀당 데이터 전송속도가 1Gb/sec고 5백㎒급의 클록 주파수를 지닌 초고속 메모리의 실제 속도 측정이 가능하며 최대 8개칩을 동시에 테스트할 수 있다.
어드밴테스트는 이와 함께 전공정용 장비로 플래시메모리 전용 테스터인 「T5721」를 출품했다.
이 장비는 디바이스별 테스트 기능과 컨트롤러 영역을 서로 독립시킴으로써 테스트 소요 시간 및 비용을 대폭 절감할 수 있도록 한 것이 가장 큰 특징이다.