미국 휴렛패커드(HP)는 자사의 고주파(RF) 측정 및 반도체 테스트 관련 노하우와 컴퓨터 기술을 집적해 개발한 반도체용 IC테스트 시스템 「HP 84000」 시리즈를 출품했다.
이 시스템은 무선통신기기에 이용되고 있는 RFIC의 테스트용으로 설계된 제품으로, 고속성 및 고신뢰성을 바탕으로 개발비와 투자 위험을 최소화해 단기간에 차세대 RFIC 디바이스를 개발하는데 유용하게 활용될 수 있다고 HP측은 설명했다.
HP는 이와 함께 전송속도 1.3Gb/sec의 고속 D램을 테스트할 수 있는 「HP 8300 램버스」 시리즈도 선보였다. 이 제품은 최근들어 표준 규격이 발표되기 시작한 다이렉트 램버스 D램의 주변회로까지 검사할 수 있으며 최대 8개의 칩을 동시 측정할 수 있다. 이 장비의 타이밍 정밀도는 플러스 마이너스 50며 고속화를 위해 드라이버 회로에는 갈륨비소() IC를 채택하고 있다.