테라다인 "ARIES"
반도체 테스터 업체인 테라다인은 초당 1GB의 속도로 작동하는 초고속 반도체 테스터 「ARIES」 제품과 복합칩용 테스트 장비 「카탈리스트」를 출품했다.
다이렉트 램버스 D램, 싱크링크D램 등의 초고속 메모리 시장을 겨냥한 ARIES는 기존보다 훨씬 향상된 기능의 인터페이스 및 연산 패턴 프로그래밍이 포함된 「RPP(Rambus Production Package)」를 채택, 최대 16개 디바이스를 병렬로 검사할 수 있다.
또한 이 장비는 그동안 고속 메모리 검사시 가장 큰 장애 요인으로 지적돼온 고주파 대역 인터페이스 문제를 완벽히 해결함으로써 이 기술을 응용한 각종 초고속 디바이스의 양산을 가능케 한다.
이와 함께 선보인 카탈리스트는 초고속 메모리와 아날로그 영역을 함께 갖춘 임베디드 메모리의 개발 및 양산에 대응하는 차세대 장비로 실질적인 혼합신호(Mixed Signal) 테스트 기능을 제공한다.
또한 대폭 강화된 아날로그 테스트 기능과 자체 특허의 운용소프트웨어를 채택, 검사속도가 빠르고 복합칩 검사시 자체 오류분석을 통해 에러 영역을 자동으로 수정하는 최첨단 리던던시 기능도 갖추고 있다.