컴퓨팅 기기에서 발생하는 노이즈의 일종인 지터(Jitter)를 측정하는 계측장비들의 출시가 줄을 잇고 있다.
13일 관련업계에 따르면 한국텍트로닉스·르크로이코리아 등 주요 외산 계측기업체들이 반도체 및 컴퓨터·통신장비 제조공정에서 데이터 손실이나 오작동의 원인이 되는 지터를 측정하는 계측장비를 내놓고 영업에 들어갔다.
지터는 데이터의 균형전송을 막는 일종의 노이즈로, 지터가 발생할 경우 데이터가 상실되거나 기기에서 오작동이 발생하기 때문에 최근 들어 반도체 설계 및 통신장비 제조 업체들 사이에서 지터측정장비의 채택이 확산되고 있다.
한국텍트로닉스(대표 윤상태)는 최근 3㎓급의 광범위한 대역폭을 갖는 오실로스코프(모델명 TDS500D/600C/700D)를 출시했다. 이 제품은 4채널 독립형으로 주파수·데이터 지연시간 등을 자동으로 측정해 통계화하고 특히 지터측정용 소프트웨어인 TDSJIT1을 탑재, 초당 샘플링 속도가 최대 10G에 이르고 있다.
르크로이코리아(대표 김현두 http://www.lecroy.co.kr)는 히스토그램을 이용해 지터의 타이밍을 분석하는 패키지(모델명 JTA프로)를 선보이면서 반도체·통신 업체를 대상으로 영업에 나섰다. 이 제품은 반도체의 램버스 메모리 클록에서 발생하는 지터의 측정에 탁월한 성능을 갖는다.
올 초 한국애질런트테크놀로지스(대표 윤승기)도 지터측정장비인 SDH애널라이저(모델명 37718A)를 출시했다. 이 제품은 다중속도 및 혼성네트워크용으로 광전송라인상에서 지터는 물론 원더(Wander)까지 측정할 수 있다.
<허의원기자 ewheo@etnews.co.kr>