아드반테스트코리아(대표 이종길 http://www.advantestkorea.co.kr)는 메모리의 전공정시험 및 플래시메모리의 후공정시험 과정에 적용할 수 있는 메모리테스터 시스템 T5375를 개발, 시판에 들어간다고 26일 밝혔다.
이 장비는 143/286㎒의 시험속도를 제공하며 128개의 칩을 동시에 시험할 수 있다는 장점이 있다. 또 기존 D램 및 SD램은 물론 DDR, 램버스D램의 전공정 시험과정에 적용 가능하고 기존 방식에 비해 분석시간을 30% 향상한 분석기 MRA4(Memory Repair Analyzer4)를 탑재했다.
플래시메모리 후공정 시험에 적용할 경우 기존 플래시메모리 제품과 고속 싱크로너스 플래시메모리 등의 성능시험이 가능하며, 시험 및 제어기능을 디바이스마다 독립적으로 부여해 시험시간을 기존의 2분의 1 수준으로 크게 단축했다.
< 최정훈기자 jhchoi@etnews.co.kr>