테라다인코리아(대표 장홍조)는 최근 하이닉스반도체와 함께 실시한 칩 테스트 시연회에서 자사의 웨이퍼 프로브 시스템(모델명 J996FA)이 125㎒의 초고속으로 D램 베어다이칩(모듈화하기 전의 칩)을 검사하는 데 성공했다고 26일 밝혔다.
테라다인은 기존 장비가 프로브카드의 좁은 대역폭과 채널카드와 웨이퍼 사이의 신호전달을 지연시키는 인터페이스 등의 문제로 최대 60㎒ 속도의 테스트만 가능했지만 J996FA는 광대역 인터페이스의 채택과 프로브카드의 성능향상을 통해 대폭적인 속도개선을 이뤄냈다고 말했다.
테라다인은 이동전화나 개인휴대단말기(PDA), 디지털카메라용 멀티칩모듈(MCM)에 주로 사용되는 D램 베어다이칩의 수요가 급격하게 늘어날 것으로 보고 250㎒의 검사속도를 제공하는 ‘프로브원’ 메모리 테스트 시스템도 선보일 것이라고 밝혔다.
<정진영기자 jychung@etnews.co.kr>