원자력병원 싸이클로트론 응용연구실 채종서 박사팀과 삼성전자 품질관리(QA)팀은 싸이클로트론 입자가속기를 이용해 메모리 반도체의 SER 성능시험에 성공했다고 15일 밝혔다.
SER(Soft Error Rate)란 메모리 반도체 칩의 오동작을 의미한다. 이런 오동작은 그동안 무시돼 왔으나 최근 반도체 칩 내부의 구성물질에 포함된 극미량의 우라늄(U)이나 토륨(Th) 등 방사성 물질이 칩의 작동에 영향을 미칠 수 있는 것으로 밝혀지면서 중요성이 부각됐다.
또 대기에 존재하는 우주방사선(cosmic ray) 등도 메모리 칩의 오동작에 영향을 미칠 수 있는 것으로 알려져 반도체의 설계단계에서 이에 대한 고려가 필요하게 됐다. 특히 D램이 인공위성 등의 우주과학 장비에 이용되거나 고산지역 등 열악한 환경에서 전자장비로 활용되는 빈도가 증가함에 따라 이에 대한 성능검사가 요구되고 있다.
이번 성능시험의 성공으로 삼성전자는 메모리 반도체가 중성자선에 의해 영향을 받을 수 있는 오동작과 상관성을 파악해 불량률을 감소시키게 됐다.
삼성전자는 또 국제규격에서 권고하는 1000피트보다 좋은 품질 수준을 달성해 국내 반도체 제품의 우수성을 향상시킬 수 있게 됐다.
시험연구에 이용된 원자력병원의 싸이클로트론 입자가속기는 의료산업·핵과학 기초연구 등 여러 분야에서 폭넓게 응용될 수 있으며 국내 이온빔 연구시설 중 최대 시설로 과기부 원자력연구기반 확충사업으로 확보됐다.
싸이클로트론 시설은 기초과학연구를 촉진하기 위해 국내의 기초과학 연구자들에게 개방하고 있으며 이번 시험연구 결과는 오는 11월 브라질 상파울루에서 개최되는 IAEA 주최 가속기 이용 심포지엄에서 발표될 예정이다.
<김인순기자 insoon@etnews.co.kr>