국내 벤처기업이 연구 개발한 반도체 성능측정장비 설계도를 몰래 빼낸 일당이 경찰에 적발됐다.
경찰청 특수수사과는 12일 국내 S사가 개발한 반도체 성능측정장비인 번인챔버(Burn-In Chamber) 설계도를 훔친 혐의(부정경쟁방지 및 영업비밀보호에 관한 법률위반)로 C사 강모(42) 부사장을 구속했다.
경찰은 또 같은 혐의로 C사 고모(44) 사장과 S사 전 생산부장 이모(47)씨를 불구속입건했다.
강 부사장은 2월 초 주식과 현금 1천500만원, 퇴직금을 미끼로 이씨를 매수해 2월24일 S사의 번인챔버 설계도를 빼돌렸지만 자체 생산에 실패하자 이를 3월29일 일본 설계전문회사인 W사에 보내 설계를 의뢰한 혐의를 받고 있다.
W사는 설계도만으로는 번인챔버를 만드는 데 실패하자 설계기술부장 A(43)씨를 한국에 보내 4월22일 경기도 성남시 중원구 C사 공장에서 이 회사 직원들과 함께 번인챔버를 분해하던 중 신고를 받고 들이닥친 경찰에 체포됐다.
경찰은 그러나 W사의 경우 과거 인연으로 알고지내던 C사 고 사장의 부탁을 받고 번인챔버 생산을 선의로 도와주려했을 뿐 범죄에 연루된 혐의점은 일단 발견하지 못했다고 밝혔다.
S사가 특허를 갖고 있는 번인챔버는 반도체 성능을 최종적으로 80∼120도의 고온에서 6∼48시간 동안 측정하는 기계로 외국 제품에 비해 생산 능력이나 가격 경쟁력이 우수한 것으로 평가받고 있다.
S사는 95년부터 국내 주요 반도체업체에 600억원 상당의 번인챔버를 납품해왔다.
이와 관련 국가정보원 관계자는 “이번 사건의 피해자인 S사를 비롯해 대부분의 중소 장비업체들이 이 같은 위험에 직면해 있다”며 “비교적 규모가 있는 장비업체는 최근 기술 유출에 적극 대응하고 있으나 영세한 업체들은 기술 유출에 무방비인 것이 현실”이라고 말했다.
<심규호기자 khsim@etnews.co.kr>