국내 연구진이 생체 고분자나 나노복합소자·자기기억소자 등 첨단 반도체 박막의 표면 구조 연구에 쓰이는 중성자 반사율 측정 장치를 국산화하는 데 성공했다. 이번 개발로 우리나라는 미국·독일·프랑스·일본 등 전 세계적으로 5∼6개국 정도만 보유하고 있는 첨단 기술을 확보하게 됐으며 국내 연구기관이나 바이오(BT), 나노기술(NT) 관련 업체가 해외 시설을 이용하기 위해 지불하는 외화의 유출도 줄어들 전망이다.
이정수 한국원자력연구소 박사팀은 1∼500㎚의 얇은 표면 구조를 나노 단위까지 분석할 수 있는 중성자 반사율 측정 장치를 순수 국내 기술로 개발했다고 25일 밝혔다.
중성자 반사율 측정장치는 원자로에서 생산하는 중성자 중 2.45옴스트롱 파장의 중성자만을 뽑아내 물체에 쪼임으로써 물체 표면의 두께나 거칠기·박막 코팅 밀도 등을 분석하는 기기다. 에너지가 대단히 낮은 중성자를 이용함으로써 측정 시료에 물리적이나 화학적인 손상을 주지 않는 것이 가장 큰 장점이다. 생명체의 세포 구조도 살아있는 그대로 관찰할 수 있다.
또 X선 등에 비해 투과력이 뛰어나고 자성을 이용해 고분자 박막, 금속 박막, 유전체 박막, 자성 박막, 자성반도체 박막 뿐 아니라 장기적으로 초전도체 박막까지 다양한 분야의 연구에 활용이 가능하다고 연구팀은 밝혔다.
이정수 박사는 “기존의 중성자를 이용한 비파괴검사는 중성자의 입자 특성을 이용, 물체를 투과하는 방법으로 구조물 검사에 사용하는 데 반해 이번에 개발된 중성자 반사율 측정장치는 박막의 입사각을 측정하는 전혀 다른 개념으로 BT, NT, IT 등의 첨단 기술 연구에 적합하다”고 말했다.
조윤아기자@전자신문, forange@