마이크로하이테크(대표 이성률 http://www.mh-tech.co.kr)는 TFT LCD 패널 셀 검사용 프로브 유닛의 핵심부품 중 하나인 프로브 블록을 개발했다고 31일 밝혔다.
이번에 개발된 프로브 블록(모델명 C30)은 반도체 기술인 MEMS(Micro Electro Mechanical Systems) 기술을 적용한 블레이드 타입 제품으로 오는 7월 본격적인 공급에 나설 방침이다.
이 회사가 개발한 프로브 블록은 LCD 패널 셀 검사 중에도 블록의 양끝 부분을 검사자의 육안으로 쉽게 확인할 수 있는 구조로 돼 있다. 또 프로브 핀에 불량이 생겼을 때 해당 핀만 부분적으로 교체 ·수리할 수 있는 장점이 있다. 게다가 TCP(Tape Carrier Package)와 일체형 구조로 제작돼 블록의 수리가 가능하면서도 외부충격에 의한 프로브 핀 컨텍 미스(DIM:Probe Pin Contact Miss)에도 대응이 가능하도록 설계된 것이 특징이다.
이 제품은 현재 LCD 패널 패드 피치 30㎛까지 개발이 완료됐으며, 올해 안에 25㎛까지 개발할 계획이다.
마이크로하이테크는 이번 C30 개발로 기존 패널 셀 검사용인 VIC(Vertical Inter Connector)와 함께 고객의 요구에 다양하게 대응할 수 있는 제품을 갖추게 됐다.
이성률 사장은 “C30 개발완료로 대내적으로는 기술적인 완성도를 높였으며 생산성 확보와 함께 인건비도 크게 줄일 수 있게 됐다”고 말했다.
대구=정재훈기자@전자신문, jhoon@