한국테스트협회(회장 장훈 숭실대 교수·사진)는 오는 6월 29일 서울 양재동 교육문화회관에서 제8회 한국테스트학술대회를 개최한다고 20일 밝혔다.
한국테스트협회는 이달 말까지 산학연 전문가들을 대상으로 시스템 온 칩(SoC) 및 임베디드 테스트 관련 전분야 논문을 접수해 다음달 13일 채택여부를 통보할 예정이다.
올해로 8회째를 맞는 한국테스트학술대회는 테스트와 관련된 모든 분야에 걸친 연구 성과 발표를 통해 국내 테스트분야 원천 기술 발전을 견인한다는 취지에서 열리는 행사다.
한국테스트학술대회는 테스트분야 국내 최대 행사로, 삼성전자·하이닉스반도체·LG전자·동부하이텍·엠텍비젼·프롬써어티·테러다인·어드밴테스트코리아·멘토·넥스테스트·TEL·요코가와 등 국내외 반도체 관련업체들이 후원한다.
장훈 한국테스트협회장은 “이번 학술대회에는 테스트 장비업체·테스트 관련 CAD업체·반도체 디자인하우스·시스템업체·학계 등의 관련 전문가들이 대거 참여해 서로의 시각차이에서 발생하는 문제점과 이를 극복하기 위한 노력에 대한 열띤 토의를 벌일 예정”이라며 “멀티칩·SoC화 등으로 인해 갈수록 중요성이 커지고 있는 테스트 관련 기술의 방향을 설정할 수 있는 자리가 될 것”이라고 말했다.
한국테스트협회는 삼성전자·하이닉스·LG전자·동부하이텍 등 대기업 반도체 테스트 관련 임원, 중견 테스트 장비 및 설계업체 CEO, 외국계 테스트장비·설계 툴업계 한국지사장, 대학교수 반도체 테스트 전문가들이 회원으로 활동하고 있는 단체다.
심규호기자@전자신문, khsim@
