전자 부품 ISC, 테스트 소켓 특허취득 발행일 : 2008-04-15 11:02 공유하기 페이스북 X(트위터) 메일 URL 복사 글자크기 설정 가 작게 가 보통 가 크게 아이에스시테크놀로지는 Lead 타입 반도체의 테스트 시 Devicd Lead와 테스트 소켓 접촉부 간의 전기적 접촉이 잘 이루어지도록 하기 위한 테스트 소켓 관련 특허를 취득했다고 15일 공시했다. 전자신문인터넷 조정형기자 jenie@etnews.co.kr