한국반도체테스트학회(회장 강성호 연세대 교수 www.koreatest.or.kr)가 주관하는 한국테스트학술대회가 ‘고성능, 고용량 추세 속에서의 테스트 해법’을 주제로 25일 서울 양재동 교육문화회관에서 개최된다. 올해로 아홉 번째를 맞이하는 한국테스트학술대회는 기존 테스트협회가 사단법인으로 확대 개편돼 시행하는 첫 학술대회로 메모리와 비메모리를 포함하는 반도체 테스트와 상호 연계를 통한 연구, 발전을 위해 마련됐다.
이번 학술대회에서는 국내외 테스트 관련 저명인사들의 초청 강연과 업계와 학계의 최신 테스트 이슈들에 대한 튜토리얼 발표를 통해 각 분야에서 접하고 있는 테스트 기술적용의 문제점과 관련 기술 동향들이 발표될 예정이다. 특히, ‘패키지 단계에서의 고속테스팅’이라는 주제로 진행될 패널토의에서는 테스트장비 업체와 테스트 관련 CAD업체, 디자인하우스, 시스템업체, 대학 등 관련 전문가들이 참석해 열띤 토의를 할 예정이다. 문의 (02)313-3705
주문정기자 mjjoo@