한국정보보호진흥원(KISA, 원장 황중연)은 25일 대전 유성구에서 나노종합팹센터(NNFC, 소장 이희철)와 스마트카드 IC 칩 시험·취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류 등에 대한 포괄적인 협약을 체결했다.
이번 협약을 통해 양 기관은 스마트카드 IC칩 시험·취약성 에 필요한 원천기술을 공동으로 확보해 나갈 수 있는 협력 모델을 마련하였다. KISA는 소프트웨어 평가역량을 스마트카드 IC칩을 포함한 하드웨어로 확대할 수 기반을 확보하게 되고, NNFC은 나노기술이 요구되는 IC칩 구조 분석 기술을 스마트카드 IC칩에 확대 적용하기 위한 연구를 수행하게 된다.
주요 협력 분야는 △스마트카드 IC칩 기술 관련 정보 교환, △스마트카드 IC칩 시험 및 취약성 분야의 연구 협력, △기타 하드웨어 시험평가 관련 연구 협력 부분이다.
전자신문인터넷 장윤정 기자linda@etnews.co.kr