반도체 검사장비 전문업체인 유니테스트(대표 김종현 www.uni-test.com)는 최근 차세대 플래시 메모리 검사장비인 ‘유니(UNI)530’을 개발했다고 22일 밝혔다. 유니 530은 낸드 플래시와 노어 플래시 메모리를 300Mbps의 속도로 검사할 수 있는 장비로, 256개의 메모리 디바이스를 동시에 테스트할 수 있다. 또한 플래시 메모리외에 D램, MCP, 슈도S램 등 다양한 메모리 반도체를 최대 1024개까지 검사할 수 있도록 시스템 확장성도 갖췄다.
유니테스트는 D램용 메모리 검사장비에 이어 플래시 메모리용 검사장비까지 일괄 시스템을 구축했다. 향후 성장이 예상되는 고속 MCP 검사장비 시장에 성공적으로 진입할 수 있게 됐다. 김종현 사장은 “국내 장비업체가 메모리 반도체 검사에 관련된 장비를 모두 갖춘 것은 처음”이라며 “하반기 반도체 업황이 점차 회복되면 해외 수출도 잇따를 것”이라고 말했다.
서한기자 hseo@