파이컴, 분할형 백라이트 장치 관련 특허 취득

파이컴은 분할형 백라이트 장치에 대한 일본 특허를 취득했다고 6일 공시했다.

특허의 주요내용 본 발명은 LCD 패널의 검사 장치인 Probe Station의 워크테이블을 조명하는 "분할형 백라이트 장치"에 관한 것으로써, 향후 파이컴은 현재 생산제품인 자사의 PROBE STATION(TFT-LCD 검사장비)에 적용할 계획이다.

전자신문인터넷 장윤정 기자linda@etnews.co.kr