고영테크놀러지(대표 고광일)는 자사 3차원 실장부품 검사장비(AOI) ‘Zenith’가 이달 미국 라스베이거스에서 열린 ‘IPC/APEX 2010’ 전시회에서 NPI(New Product Introduction) 어워드를 수상했다고 밝혔다.
NPI 어워드는 미 전자산업 전문지인 ‘Circuit Assembly Magaznie’이 주관, 산업 전문가 평가단을 통해 지난 1년간 세계 전자 시장에서 가장 두각을 나타낸 부문별 선도 신제품을 선정해 수상하는 제도다.
테스트 부문 수상자로 선정된 ‘Zenith’는 Z축 형상 측정을 통해 부품의 표면은 물론 높낮이와 형상을 측정할 수 있는 장비다. 실측에 기반한 검사데이터로 3차원 검사가 가능해 기존 2차원 검사기로는 판단이 힘들었던 들뜸 불량 검출, 그림자 문제, 난반사 문제 등을 해결한 장점이 있다.
고영테크놀러지는 3차원 납 도포 검사기 분야에서 글로벌 기술과 시장을 선도하고 있는 업체로 미국, 유럽, 일본, 중국 등에 판매·서비스 네트워크를 갖추고 있다.
고광일 대표는 “‘Zenith’는 3차원 측정 기술은 물론 터치스크린 UI 등 편의성도 극대화한 제품”이라며 “이번 수상으로 기술력을 공인받은 만큼 세계 시장 공략에 더욱 속도를 가하겠다”고 밝혔다.
조정형기자 jenie@etnews.co.kr