요꼬가와, 테스트 타임 75% 절감 메모리 테스트 장비 개발

요꼬가와, 테스트 타임 75% 절감 메모리 테스트 장비 개발

요꼬가와인스트루먼트코리아는 본사인 요꼬가와전기가 웨이퍼 1매당 테스트 소요 시간을 75% 절감시킨 새로운 메모리테스트장비인 ‘MT6530시리즈’를 개발했다고 18일 밝혔다.

이 제품은 테스트헤드 1대당 동시측정개수를 기존 제품 대비 3배인 1536개로 늘려, 테스트 효율을 대폭 향상시켰다. 또 최고 동작 주파수와 테스트 시스템과 칩간의 데이터 전송 속도를 이전 제품에 비해 1.6배 이상 높인 444MHz, 888Mbps로 높여 휴대형 전자기기에 탑재되는 디바이스가 필요로 하는 고속, 고주파 테스트에 대응토록 했다. 주요 타깃시장은 웨이퍼 집적도가 높은 D램, 플래시메모리 분야다.

요꼬가와전기는 이 제품을 다음달 1일 일본에서 개최되는 ‘세미콘재팬 2010’에 선보이고 내년부터 본격적으로 판매할 계획이다. 내년 판매 목표는 50대다.

유형준기자 hjyoo@etnews.co.kr