스마트폰·스마트패드(태블릿PC) 등 스마트 기기의 수요가 증가하면서 반도체도 그 쓰임새가 확장됐다.
하지만 집적 기술의 발전에 따른 기능의 다양화로, 반도체 개발 및 엔지니어들은 테스트 항목의 증가와 더불어 시간 및 비용 절감 등의 문제에 부딪혔다.
ADC/DAC·PMIC·RFIC 등 반도체 기능에 대한 전반적인 테스트를 진행하려면 측정 항목에 다양한 계측기가 필요하고, 이를 효과적으로 통합해야 한다. 이러한 박스형 계측기의 통합은 경제적으로 큰 부담이 될 뿐 아니라, 통합 자동화 테스트 시스템을 구현하는 데에 많은 한계가 있다.
이번 지식방송에서는 한국 내쇼날인스트루먼트 전략마케팅팀 한정규 대리가 반도체 개발 및 검증 단계에서 진행해야 할 테스트 항목들을 짚어보고 반도체 통합 자동화 테스트를 위한 PXI기반의 자동화 테스트 시스템 개발 기법 및 각종 해외 사례를 소개한다.
강의를 통해 아날로그 디바이스(Analog Devices), 인피니온(Infineon), IBM 등 세계 여러 유명한 반도체 제조 업체들이 PXI 기반의 통합 반도체 테스트 시스템을 어떻게 적용했는지 살펴볼 수 있다.
방송에 참여하면 추첨을 통해 고급우산과 스타벅스 카드 등을 증정한다.
김시소기자 siso@etnews.co.kr
