검사장비 공급 선도 업체 아드반테스트(대표 쿠로에 신이치로)는 센서, 소핀 아날로그 IC 및 혼용(Mixed) IC 양산 목적으로 설계한 ‘EVA100’ 측정 시스템의 최신 모델을 발표했다고 5일 밝혔다.
이 제품은 초기 EVA100 엔지니어링 모델과 100% 호환한다. 사용자가 제품 디자인에서 양산까지 표준화한 환경을 확립, 개발 제품의 출시기기(Time to Market)를 개선할 수 있다. IoT관련 제품 과 자동차 전장, 스마트 제품 등이 부각되면서 고성능 아날로그 IC와 혼용 IC, 센서 수요가 증가하고 있다. 이같은 제품은 유연한 양산 환경을 갖추는 것이 중요하다. 하지만 많은 칩 제조업체는 귀한 시간과 자원을 검사 데이터 상관성을 위해 불필요하게 사용한다. 왜냐하면 다양한 종류 장비를 디자인 검증과 양산을 위해 보유하고 있으며, 각 장비는 다른 성능과 호환이 되지 않는 프로그램 언어를 가지고 있기 때문이다.
아드반테스트사가 선보인 ‘EVA100’ 양산 모델은 이런 문제에 대해 해법을 제공한다. ‘EVA100’ 플랫폼은 디자인에서 양산까지 동일한 테스트 시퀀스1을 사용하고 직관적인 GUI환경을 제공하기 때문에 복잡한 프로그램 언어가 필요하지 않다. 또 테스팅 유닛을 네 개까지 구성할 수 있어 대량 생산에 필요한 생산능력을 갖출 수 있다. 이런 특징은 작업자 업무를 단순화해 효율을 향상시키고 제품 생산 소요 시간을 단축시켜 준다. 아날로그 전압 및 전류원 검사를 포함한 중요한 검사 기능이 소형 EVA100 양산 모델에 탑재됐다. ‘EVA100’은 100Mbps 패터 발생기, 디지털 입출력, 임의파형 발생기(Arbitrary Waveform Generator), 2Gbps 샘플링이 가능한 오실로스코프를 포함하고 있다. 또 시리얼 버스를 이용해 센서향 보드 검사와 트리밍을 할 수도 있다. 모든 측정 채널은 정확하게 장비와 동기화되어 신뢰할 수 있고, 반복적 결과를 가져다 주어 수율 향상에 기여할 수 있다. 사토루 나구모 아드반테스 사업본부장은 “지난 2014년 5월 장비를 시장에 출시한 이래 ‘EVA100 플랫폼’은 편의성과 보다 뛰어난 성능 및 재현성을 보여주어 시장에서 폭 넓게 채용되고 있다”고 밝혔다.
방은주기자 ejbang@etnews.com