아드반테스트는 테스트시스템 '웨이브 스케일(Wave Scale) MX' 제품군에 고해상도 고정밀 혼성신호 채널을 추가해 아날로그→디지털과 디지털→아날로그 파형 컨버터 테스트 범위를 확장했다고 21일 밝혔다.
새로운 웨이브 스케일 MX 고해상도 카드는 업계 최고의 병렬(Parallel) 테스트 기능과 신뢰할 수 있는 교류(AC)·직류(DC) 성능을 결합했다.
이러한 특성을 반영한 아드반테스트의 'V93000' 테스트 플랫폼은 아날로그와 디지털 웨이브 폼 컨버터 테스트에서 증가하는 저왜곡과 정확도·선형성 요구사항을 충족시킨다. 또 컨슈머 오디오와 사물인터넷(IoT) 디바이스 테스트 비용과 출시 기간을 단축할 수 있다.
한스 위르겐 바그너 SoC비즈니스그룹 경영임원은 “고해상도 웨이브 스케일 MX 카드는 채널 수와 밀도가 가장 높다”면서 “이 카드는 더 넓은 신호 범위를 지원하고 오디오 구성 요소의 출력 레벨을 높일 수 있다”고 밝혔다.
이 제품은 단일종단(Single-ended) 또는 차등(Differential) 신호에 대해 각각 16개의 AWG(Arbitrary Waveform Generators)와 디지타이저(digitizer) 같은 32개의 계측기에서 고성능 완전 독립 AC·DC 테스트를 제공한다.
또 시간에 따라 가장 높은 DC 안정성을 보장하는 로컬 온도 제어 레퍼런스를 가지고 있으며, 단일종단 신호는 최고 정확도를 달성하기 위해 채널당 접지 센스를 참조할 수 있다. 모든 기능은 테스트 프로세서 소프트웨어에 의해 제어돼 처리량과 반복성을 극대화한다.
웨이브 스케일 MX 카드의 혁신적 아키텍처는 각기 다른 설정의 32개 기구를 동시에 테스트할 수 있다.
한편 아드반테스트는 고해상도 리소스 카드 외에도 고해상도와 고속 기능을 하나의 카드에 결합한 '웨이브 스케일 MX 하이브리드 카드'도 공급하고 있다.
이성민기자 smlee@etnews.com