아드반테스트, 오토모티브 SoC 시장에서 `T2000] 확장 위한 테스트 헤드·모듈 출시

SoC 테스트 장비 `T2000에 새롭게 장착한 테스트헤드 RND 520

반도체 테스트 장비기업 아드반테스트는 자동차용 애플리케이션에 사용하는 시스템 반도체(SoC) 대량 테스트를 위해 특별히 디자인한 테스트 헤드와 새로운 모듈 2개를 출시, SoC 테스트 장비 'T2000' 활용 범위를 확장했다고 3일 밝혔다.

이번에 새로운 컴포넌트를 장착한 장비는 테스트 능력을 한 단계 높이고 빠른 병렬 처리를 가능한 게 특징이다. 디바이스 기업들은 이를 통해 최소한 자본 투자로 변화하는 오토모티브 시장 요구에 발 빠르게 대응할 수 있을 뿐 아니라 신제품 개발 시간을 대폭 단축할 수 있다. 회사는 자동차에 사용되는 SoC 테스트 비용을 줄이기 위해 개발했다. 2019~2022년 연간 9.6%의 성장률을 보일 것으로 예상되는 자동차용 반도체 시장에 적극 대응할 목적으로 출시했다.

T2000의 새로운 테스트헤드 'RND520'은 다이렉트 도킹 테스트 옵션과 최대 핀 수를 제공하는 52개 슬롯을 장착하고 있다. HIFIX(High-fidelity tester access fixture) 제품 라인 시리즈로 새로운 테스트 헤드는 최대 병렬 웨이퍼 테스트를 지원한다.

웨이퍼 테스트 중에 안정적인 측정을 보장하기 위해 센터 클램프 기술을 사용하면서 이전 제품보다 40% 더 큰 면적을 제공한다. 또 테스트 헤드는 최대 175℃까지 확장된 온도 범위에서 동작한다.

T 2000의 디지털모듈 `2GDME

디지털모듈 '2GDME'는 256개 채널을 활용해 최대 2Gbps속도로 작동하는 MCU·APU·ASIC·FPGA 등 자동차 전장 제품에 사용하는 다수 SoC 장치를 테스트한다. 32개 입출력 채널마다 전용 고성능 파라매트릭 측정 장치(HPMU)를 갖추고 있다. 모든 입출력 채널에 대해 최대 60㎃까지 확장된 전류 용량을 제공한다. 이 모듈은 또, 전기적 스트레스 테스트·임의파형 발생기(AWG)·디지타이저(DGT) 등 기능을 제공, 고전압 애플리케이션에 대응할 수 있다.

또, 전원 공급 장치 'DPS192A'는 핀 수가 많은 자동차 SoC 병렬 테스트를 가능케 한다. 다목적 모듈 전압 범위는 ­2.0V~+9.0V, 전류 범위는 최대 3㎃이다. 슬루 레이트 컨트롤(Slew-rate control)·전력 무결성을 평가하는 추적기능, 공급전류 측정을 위해 샘플링 속도를 개선하는 평균화 기능, IDD스펙트럼 측정을 위한 연속 샘플링 테스트 등 기능을 포함하고 있다.

아드반테스트 관계자는 “동력전달계·인포테인먼트시스템·첨단운전자보조시스템(ADAS)·전자기판 안전성 등 자동차 모든 부문에서 IC 집적화로 반도체 부품 수요가 빠르게 증가하고 있다”면서 “'T2000'은 자동차 SoC를 위한 고성능·저비용 테스트 솔루션”이라고 말했다.

안수민기자 smahn@etnews.com