글로벌 반도체 테스트 장비 기업인 아드반테스트는 테라헤르츠 광학 샘플링 분석 시스템 'TAS7400TS'의 고주파 고해상도 옵션을 발표했다.
고주파 고해상도 옵션은 비욘드5G·6G의 차세대 통신 기술과 첨단운전자지원시스템(ADAS)에 사용되는 밀리미터파 레이더 기술에 필수적인 전파 흡수체와 기판 재료 등 고주파 특성 평가에서 조작을 용이하게 하고 비용을 줄이는 측정 방법을 지원한다.
밀리미터파·고주파 영역에서 각종 재료의 전달특성(투과율, 반사율), 복소 유전율 등 특성파악은 벡터 네트워크 분석기(VNA)가 지금까지 널리 사용되고 있다. 하지만 최근 광대역 특성 파악이 중요함에 따라 VNA는 주파수 대역별 설정과 교정 시간이 큰 문제로 부각되고 있다.
아드반테스트의 테라헤르츠 광학 샘플링 시스템은 펄스전자기장을 활용해 광대역에서 일괄 측정을 가능하게 함으로써 이러한 문제를 해결한다. 더 작은 크기의 광학 샘플링 시스템(측정 환경)으로 측정이 가능함에 따라 비용과 공간을 절약하는 효과를 얻을 수 있다.
매핑 측정 옵션을 사용해 표면 주파수 특성을 분석하는 것 또한 가능하다. 이외 새로운 옵션의 주파수 해상도와 스캔 속도는 이전 제품에 비해 5배 빨라져 신소재의 고주파 특성을 평가하기 위한 최적의 솔루션이다.
이 솔루션은 오는 11월 8일부터 10일까지는 JASIS에서, 11월 24일부터 26일까지는 MWE 2021에서 전시될 예정이다.
안수민기자 smahn@etnews.com
