환경부 소속 국립환경과학원은 반도체 및 디스플레이 업종의 주요 온실가스 배출량 및 감축량을 정확하게 산정할 수 있도록 개정된 온실가스공정시험기준을 공개한다고 11일 밝혔다.
온실가스공정시험기준은 사업장에서 배출되거나 대기 중에 존재하는 온실가스의 농도를 정확하게 측정하는 데 필요한 시험방법이다.
국내 반도체 및 디스플레이 생산량 증가로 온실가스 배출량은 지속적으로 확대됐으며 이에 따른 감축량을 산정할 측정방법을 마련해야 한다는 필요성이 제기됐다.
국립환경과학원은 산업공정 배출가스 중에 포함된 아산화질소, 수소불화탄소, 과불화탄소, 육불화황, 삼불화질소의 농도를 적외선흡수분광법으로 측정해 온실가스 배출권거래제의 배출량 보고와 인증에 적용할 수 있도록 공정시험기준을 제정했다.
이번 개정으로 반도체 및 디스플레이 업종에서 배출되는 온실가스 농도에 대한 정량평가가 가능해진다는 게 과학원의 설명이다.
또한 감축시설의 저감 효율 측정뿐만 아니라 공정 과정 중에 쓰이는 온실가스(육불화황 등)의 사용 비율을 평가하고 이때 발생하는 부생 가스(사불화탄소 등)에 대한 측정까지 가능해진다.
개정 기준은 지난해 11월 행정예고를 통해 국민 의견을 반영했고 수정안에 대해 전문가 및 관계기관 검토를 거쳐 마련됐다.
유명수 국립환경과학원 기후대기연구부장은 “이번 온실가스공정시험기준 개정은 반도체와 디스플레이 업종의 탄소중립 노력에 대한 정량평가 기준 수립에 의의가 있다”며 “앞으로도 이를 활용하여 기술경쟁력뿐만 아니라 온실가스 감축에 대한 선도적인 역할을 수행할 수 있는 기반을 확보하겠다”고 말했다.
최다현 기자 da2109@etnews.com
