일본 미쓰시타전기와 미국 휴렛팩커드(HP)사가 전자제품의 고장 위치를 진단하는 기술을 공동으로 개발한다고 「日本經濟新聞」이 22일 보도했다.
이에 따르면 양사는 진단장치와 고장난 전자제품을 하나의 코드로 연결하면 회로의 끊어짐이나 누전등을 즉석에서 찾아낼수 있는 기술을 개발한다. 이 기술은 향후 2년내에 실용화할것을 목표로 하고 있는데 진단 가능한 제품은 AV(음향, 영상)및 정보통신기기 등이다.
마쓰시타와 HP는 이 기술을 칩형태로 제품화하고 앞으로 고장진단이 어려운 디지털 아날로그 혼성회로도 진단할 수 있는 기술을 개발할 계획이다.
마쓰시타는 이 기술을 자사제품에 응용해 애프터서비스의 향상을 위해,HP는 새로운 검사장치로서 각각 실용화에 나설 방침이다.
<박주용 기자>