일본 미쓰비시전기의 첨단기술종합연구소가 반도체 메모리의 테스트 작업을 간편하게 할 수 있는 새로운 기술을 개발했다고 「일경산업신문」이 보도했다.
이에 따르면 미쓰비시는 많은 테스트 항목 중 필요한 항목만 선택한 공정을 PC와 전용 소프트웨어를 통해 자동화함으로써 지금까지 수작업으로는 2주일 가량 걸리던 것을 한시간 정도로 대폭 단축했다.
미쓰비시가 개발한 기술은 불량칩의 데이터를 토대로 테스트 항목의 조합을 조금씩 변화시켜 어느 조합이 가장 효율적으로 불량품을 검출하는지 찾아내는 기술로 종전의 수작업을 통한 테스트에 비해 시간과 비용을 크게 절감할 수 있는 것이 특징이다.
<주문정기자 mjjoo@etnews.co.kr>