사단법인 한국반도체테스트학회가 주관하는 한국 테스트 학술대회가 27일 서울 양재동 더케이서울호텔에서 개최된다. 학회는 올해로 18회차를 맞이한다.
올해 학술대회에선 미국 반도체 검사장비 전문업체 테라다인의 그레고리 스미스 사장이 최신 반도체 테스트 동향을 주제로 기조강연을 한다.
또한 업계와 학계의 최신 테스트 기술 연구 성과와 논문이 발표될 예정이다.
검사 장비 시스템과 핸들러, 프로버, 소켓 시장 상황과 개발 동향을 주제로 패널 토의도 진행된다. 반도체 소자 생산 업체와 테스트 장비, 소모품 등 관련 업계와 학계 전문가들이 참여해 상호 협력, 발전 방안을 논의한다.
학회는 “이번 학술 대회가 국내 반도체 테스트 기술을 한층 발전시킬 수 있는 기회의 장이 될 것”이라고 전했다.
한주엽 반도체 전문기자 powerusr@etnews.com