반도체 테스트 장비 전문업체 엑시콘(대표 박상준)가 업계 최초로 차세대 PCIe Gen4(4세대) 솔리드스테이트드라이브(SSD) 테스터 상용화 제품을 출시했다고 28일 밝혔다.
이는 올해년도 'IR52장영실상' 수상제품으로 정밀온도 제어를 통한 균일한 시험환경에서 PCIe Gen4 프로토콜 IP·AP 솔루션을 선택적으로 제공해 양산·개발환경에 따라 제품구성이 가능하다. 테스트장비(DUT)는 240 DUT 챔버·2 DUT 개인용 버전으로 개발됐다. -40℃ 오토모티브 시험환경 등 다양한 설비응용환경에 필요한 테스트 구성요구에도 유연하게 대응할 수 있다.
4차 산업혁명 시대에는 빅데이터 혁명이 가속화되고 IT기기가 고속화됨에 따라 대역폭이 향상된 반도체가 필요하다. 대용량 데이터를 고속으로 처리하기 위해 소자·기기 간 데이터 입출력(I/O) 기술도 개발돼야 한다. 차세대 인터페이스로 주목받고 있는 PCIe Gen4 프로토콜은 고용량·저전력이 필수인 빅데이터 시대에 적합하다는 평가다.
이번 SSD 테스터는 16Gbps급 초고속신호에 대한 신호무결성(SI)분석·설계기술을 개발·적용했다. PCIe 프로토콜뿐만 아니라 기존 SAS·SATA 등 다양한 인터페이스를 동시에 제공해 세대교체가 용이하도록 개발됐다. 특히 고용량 데이터 처리를 위한 오픈플랫폼 기반 iEOS 소프트웨어를 자체개발한 만큼, 다양하고 복합한 테스트 환경을 제공하고 시장의 잠재적인 문제를 미리 검출할 수 있을 것으로 기대된다.
엑시콘 관계자는 “이번 테스터는 통신방식은 물론 다양한 규격제품을 모두 평가할 수 있는 다목적·다기능 테스트가 가능하다”면서 “차세대 반도체 제품 생산력 높일 뿐만 아니라 업계 화두인 정밀온도제어 개선, 신뢰성 향상이 가능하다고 본다”고 밝혔다.
그는 또 “연구개발특구진흥재단 지원 공동연구법인 사업 일환으로 신기술 개발에 착수했다”면서 “차세대 초고속 PCIe Gen4은 물론 멀티스레드 기반에서 고객의 다양한 사용환경을 고려한 설계로 효율성·생산성을 극대화했다. 생산비용을 절감하고 최종 테스트 측정시간을 최소화할 수 있을 것”이라고 덧붙였다.
이준희기자 jhlee@etnews.com
