![MTP3000ARC](https://img.etnews.com/photonews/1908/1211102_20190802151729_281_0002.jpg)
아드반테스트가 오는 6~8일 미국에서 열리는 '2019 플래시메모리 서밋'에서 최신 스토리지·메모리 테스터 'MPT3000ARC'를 출시한다고 4일 밝혔다.
아드반테스트는 이미 시장에 출시해 반도체 제조사가 사용 중인 테스터 'MPT3000' 제품군에 새 모델 'MPT3000ARC'을 추가했다. MPT3000ARC는 극한 온도에서 컨트롤이 가능하고 높은 처리량의 솔리드스테이트드라이브(SSD)를 테스트할 수 있다. 오토모티브 온도규격을 제공하고 신속하게 온도를 높여 RDT(Reliability Demonstration Test)를 최적화해 출시 시간을 단축할수 있다.
또, 40㎜ M.2(차세대 폼팩터)부터 엔터프라이즈데이터센터 폼팩터(EDSFF)까지 한 시스템에서 다양한 SSD 폼팩터를 테스트할 수 있다.
아드반테스트는 전시부스에 'MPT3000'도 선보일 예정이다. 'MPT3000'은 제품 설계부터 양산까지 복합솔루션을 제공하는 테스터이다. PCIe Gen4를 포함한 차세대 SSD 위험을 최소화해 신속하게 시장에 출시하는데 도움을 준다.
![아드반테스트, 최신 스토리지·메모리 테스터 'MPT3000ARC' 6일 출시](https://img.etnews.com/photonews/1908/1211102_20190802151729_281_0001.jpg)
아드반테스트는 D램부터 플래시메모리까지 테스트가 가능한 'T5800' 디지털 그래픽도 전시할 계획이다. 'T5800'은 웨이퍼부터 최종 테스트에 이르기까지 모든 테스트 요구사항을 처리할 수 있다.
저스틴 트레온 아드반테스트 애플리케이션 엔지니어는 7일 열릴 기술세미나에서 'Challenges of Testing PCIe Gen4 SSDs'를 주제로 발표할 계획이다.
이준희기자 jhlee@etnews.com