단국대는 한관영 전자전기공학부 교수가 휴대폰이나 각종 디스플레이 표면에 적용되는 나노박막 표면의 불량을 고속으로 측정하는 장비를 세계 최초로 개발했다고 23일 밝혔다.
이 장비는 파웰코퍼레이션의 지원을 받아 개발한 것으로, 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영 후 각 표면의 에너지를 측정해 불량 여부를 판별한다.
파웰코퍼레이션은 반도체와 디스플레이에 필요한 장치·부품의 국산화와 수입 다변화를 추진해 온 기업이다.
통상 태블릿PC·스마트폰 등 전자기기디스플레이는 표면에 20~40nm 두께의 나노박막을 입혀 매끄럽게 처리하는 과정을 거친다. 나노박막의 불량 여부 확인을 위해 투과전자현미경, 원자 및 주사전자현미경 등으로 표면 증착 정도를 판별하고 있지만 시간이 오래 걸리고, 정량적 측정이 어려워 불량 제품이 함께 출하되는 경우가 빈번했다.
특히 폴더블 및 플렉시블 디스플레이는 양면접착이 가능한 광학용투명접착필름(OCA)을 사용해 여러 시트층을 붙이는데 접히는 부분에서 들뜸 현상이 많이 발생해 시트 전체를 폐기하기도 했다.
이에 연구팀은 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영한 후 각 표면의 에너지를 측정해 불량 여부를 판별하는 장비를 개발했다.
이 장비를 활용하면 8인치 디스플레이 전 면적을 40초 이내로 측정할 수 있어 빠른 시간 내 불량 여부 판독이 가능하다.
한 교수는 앞으로 증강현실(AR)·가상현실(VR)에 대한 광학계 연구, 검사기술 개발 및 마이크로 LED 전사와 재생 등 응용기술 개발을 진행할 예정이다.
한 교수는 “해당 장비를 통해 나노박막 필름의 불량 여부를 사전에 검사한다면 비용 손실을 줄이고 생산성을 높이는 데 크게 기여할 것”이라고 말했다.
이번 연구 성과는 지난해 12월 세계 3대 정보 디스플레이 콘퍼런스 중 하나인 일본의 IDW(Information Display Workshops)에서 발표됐으며, 핵심 특허 출원 신청을 마친 상태다.
오는 5월 미국에서 열리는 디스플레이 행사인 SID(Society for Information Display)에서도 관련 기술을 선보일 예정이다.
용인=김동성 기자 estar@etnews.com
