아드반테스트는 자동차 전자 부품을 비롯한 아날로그 반도체 검사 모듈(모델명 HF-AWGD)을 새롭게 출시했다고 7일 밝혔다.
새 모듈은 기존 측정 플랫폼 `EVA100`에 고속 아날로그 장치를 지원한다. 이중 채널 고주파 임의파형발생기와 디지털 입력장치를 갖춘 모듈이다.
새로운 모듈을 갖춘 EVA100 시스템은 기판에 장착된 자동차 전자 부품을 비롯해 혼합 신호, 정밀·표준 아날로그 반도체의 모든 주요 매개 변수를 측정한다.
`HF-AWGD` 모듈은 16비트 아날로그디지털변화기(ADC)와 연산 증폭기 같은 정밀 장치에 적합하다. 프로그램 언어가 필요 없는 직관적인 소프트웨어와 고속 샘플링을 사용해 웨이브 패턴 파일을 생성하는 파장분배기(AWG) 모드 또는 웨이브 패턴파일을 사용하지 않는 패턴 생성 모드로 파형을 만든다.
대형 파형 메모리로 샘플을 포착할 수 있다. 디지털 입력장치는 넓은 입력 범위를 가져 높은 아날로그 대역폭으로 정밀도 높게 고속 컨버터와 무선 기저대역 장치를 처리하는데 알맞다. 회사 관계자는 “HF-AWGD 모듈은 입증된 EVA100 측정 시스템 범위를 확대하는 동시에 빠른 오류 수정과 간편한 설정을 제공한다”면서 “단일 집적회로(IC)에서 아날로그와 디지털 기능을 결합한 스마트 장치를 측정하는 데 적합하다”고 말했다.
이경민 성장기업부(판교)기자 kmlee@etnews.com
