일 반도체 테스트장비 공급업체 아드반테스트는 2일까지 서울 코엑스에서 열리는 세미콘코리아에서 혁신적인 테스트솔루션을 선보인다.
전시제품은 차세대 RF IC 용 V93000 웨이브스케일플랫폼, 초고속메모리IC 테스트용 V93000 HSM16G시스템, 디스플레이드라이버IC용 T6391 테스터 등 고급 IC테스트솔루션이다.
아날로그, 디지털 및 혼합신호장치 생산량 테스트를 위한 EVA100 측정시스템과 HA7200 온도 및 압력장치도 출품한다.
고성능 범용 플래시 저장장치 및 SSD를 위한 T5851 시스템과SSD용 MPT3000시리즈테스터도 참관객 주목을 받을 것으로 보인다. 모바일 애플리케이션 및 서버에 사용되는 차세대메모리IC 용 T5503시리즈도 선보인다. F7000 전자빔 리소그래피 도구와 E3310, E3640 및 E5610SEM 계측시스템을 포함해 프로브카드,초고속메모리장치 인터페이스 및 전자빔 계측 및 리소그래피솔루션도 전시한다.
권상희기자 shkwon@etnews.com
